(資料圖片僅供參考)

最新研究成果揭示，由英國(guó)和新加坡科學(xué)家合作推出的一種非侵入性光學(xué)測(cè)量方法，可以檢測(cè)納米物體位置并達(dá)到原子級(jí)分辨率，比傳統(tǒng)顯微鏡高出數(shù)千倍。

該研究成果于最新一期《自然·材料學(xué)》雜志上刊發(fā)。這一技術(shù)讓科學(xué)家能夠以十億分之一米的比例表征現(xiàn)象和系統(tǒng)，開(kāi)辟了一個(gè)新的皮光子學(xué)研究領(lǐng)域，并為其他領(lǐng)域的研究提供了令人興奮的新可能性。

對(duì)于皮光子學(xué)來(lái)說(shuō)，這一新的非侵入性光學(xué)測(cè)量方法將是一個(gè)重要的切入點(diǎn)，科學(xué)家可以在納米和原子級(jí)別上研究光的交互作用，并可以使用一種特殊類型的光學(xué)陷阱對(duì)納米和分子進(jìn)行控制，以了解它們的相互作用和特性。

這個(gè)新技術(shù)的關(guān)鍵在于納米探針的使用。這種探針通過(guò)采用特殊的光學(xué)和電子技術(shù)，可以在非常小的范圍內(nèi)對(duì)原子和分子進(jìn)行操縱和測(cè)量。這就允許科學(xué)家在納米尺度上進(jìn)行高精度的測(cè)量，以了解物質(zhì)的微觀特性。

這種測(cè)量方法具有多種優(yōu)點(diǎn)。首先，這是一種非侵入性方法，不會(huì)對(duì)樣品本身造成任何傷害或變化。同時(shí)，該方法具有非常高的靈敏度和分辨率，可以在微弱光信號(hào)的情況下檢測(cè)樣品移動(dòng)和變化。此外，這項(xiàng)新技術(shù)還可以減少人為測(cè)量錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，從而提供更為準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

這一研究成果為未來(lái)的科學(xué)研究提供了廣泛的應(yīng)用和可能性，例如在納米電子學(xué)、表面化學(xué)、化學(xué)生物學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域?？茖W(xué)家們預(yù)計(jì)未來(lái)幾年內(nèi)可以將這一技術(shù)用于更多領(lǐng)域的研究，從而使人類對(duì)物質(zhì)世界的認(rèn)知達(dá)到一個(gè)新的高度。

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